未核实，仅供参考μSpeed®传感器是一种激光多普勒速度计，用于非接触式测量长度和速度，适用各种具有微观表面结构的材料。使用方便、结构坚固使其在各种工业领域得到广泛应用。它可长期测量长度超过5米的材料的运行速度和长度，精确度高于+/-0,05%。激光多普勒原理可适用精确测量大多数材料表面。该系统结构紧凑，适合受限空间安装使用。款式多样，可测运行速度高达60 米/秒 [11800 英尺/分钟]材料，且测量距离可达120 毫米 [4,7英吋] 至 500 毫米 [19,6英吋]之间。
由于滑脱、震动、污垢或磨损，接触式测量机构经常引起测量误差甚至损坏待测产品。德国依威elovis公司生产的µSpeed系统，能完全替代这类精度为正负百分之零点一的接触式速度计。因为基于激光多普勒原理，µSpeed测长仪在精度、体积与易用性上都为这一领域确立了新的性能标准。并且，由于没有运动部件，µAWS还提供了高可靠性、免维护和自动校准等优越性能。
应用范围
依威elovis的µSpeed测长仪产品可广泛应用于钢铁、冶金、汽车、仓储、矿山、化工、陶瓷、纺织、造纸、航空材料等行业生产工艺中的材料长度与速度的监测及控制。µSpeed 可用于测量各种材料，无论材料软或硬；干燥或潮湿；带状、线状或管状；还是运动的单件产品。典型的应用如终端长度测量，货物的批量生产及用于过程控制的差分速度测量
依威elovis的µSpeed测长仪适用材料举例:
1.纺织品、地毯、毛皮、毡、皮革
2.塑料、胶卷、薄膜、胶带
3.导线、电缆、纤维、导管
4.金属：板、带、薄片
5.纸张、波纹纸板、包装材料
6.橡胶、合成材料、砑光器
7.木材、玻璃、陶瓷
8.卫生产品和食品
依威elovis的µSpeed®测长仪系统特点
1. 验布卷布机高精度测长测速仪的使用与表面性质无关（颜色、结构、 粗糙度）
2. 验布卷布机高精度测长测速仪无需现场参数调整
3. 验布卷布机高精度测长测速仪可连续自动校准
4. 验布卷布机高精度测长测速仪易于投入使用，操作便捷
5. 验布卷布机高精度测长测速仪的体积小，节省了操作空间
6. 验布卷布机高精度测长测速仪可直接替换老式记数器
7. 验布卷布机高精度测长测速仪无需日常维护
8. 验布卷布机高精度测长测速仪具有集成的控制功能
9. 验布卷布机高精度测长测速仪采用自我控制或者受控的工作方式
10. 验布卷布机高精度测长测速仪是获PTB许可用于计量用途的测量设备
依威elovis的µSpeed®测量器技术参数
量程
1. µSpeed-S5 0.6 … 300 m/分 2.µSpeed-S10 1.2 ... 600 m/分
3. µSpeed-S20 2.4 ... 1200 m/分 4.µSpeed-S40 4.8 ... 2400 m/分
5. µSpeed-S60 7.2 ... 3600 m/分
依威elovis的µSpeed®测量器**加速度 < 5 m/s²
依威elovis的µSpeed®测量器典型精度
+/- 0,1 %
依威elovis的µSpeed®测量器测量间距
120 mm +/- 3 mm
240 mm +/- 10 mm
500 mm +/- 20 mm
依威elovis的µSpeed®测量器接口
一个单向RS 232(打印机)
一个双向 RS 232 (微机COM口)
I²C-总线 (某些特定应用)
依威elovis的µSpeed®测量器输出
模拟信号 0…4 V (可编程)
每米1 … 10.000个脉冲
开放式集线器，两个预选计数器（前
/后端），一个报警器
每米1 … 10.000个脉冲
开放式集线器，两个预选计数器（前
/后端），一个报警器
依威elovis的µSpeed®测量器保护方式
探头 IP 65
控制单元 IP 44
控制单元 IP 44
依威elovis的µSpeed®测量器激光二极管
15 mW, 780 nm (3B级)
依威elovis的µSpeed®测量器尺寸 (长 x 宽 x 高)
探头 150x100x40mm
控制单元 180x150x100mm
控制单元 180x150x100mm
µSpeed®测量器可选项
1.用于数据采集的微机控制软件 2.运动方向与静止状态的识别
3.极慢速度的测量 4.传统计数器兼容的输出信号
5.内置大容量数据存储单元 6.单件测量用处理器
7.速度差分测量 8.带有PTB计量校准许可标志的系统
9.更高精度的系统 10.按照用户要求修改的完整解决方案
