纸张/薄膜测厚仪 产品用途:适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
薄膜测厚仪技术参数:
1. 测量范围:0~2mm(常规)
0~6mm;12mm(可选)
2. 分 辨 率:0.1μm
3. 测量速度:10次/min(可调)
4. 测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
5. 接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
1. 测量范围:0~2mm(常规)
0~6mm;12mm(可选)
2. 分 辨 率:0.1μm
3. 测量速度:10次/min(可调)
4. 测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
5. 接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制