未核实，仅供参考供应IC测试座(图)的基本数据
| 品牌 | 山山 | 型号 | JLCC-32-1.27-0709 |
| 应用范围 | 集成电路IC | 种类 | PLCC |
| 接口类型 | ZIF | 形状 | 矩形 |
| 制作工艺 | 注塑 | 特性 | 阻火/阻燃 |
| 工作频率 | 低频 | 接触件材质 | 铍铜 |
| 绝缘体材质 | PPS | 针数 | 32pin |
供应IC测试座(图)的详细介绍
微电子器件高温老化测试插座，是用的对微电子器件的老化测试。对其性能的稳定性进行测试老化。
节距：2.54mm,1.27mm,1.0mm,0.8mm,0.65mm,0.635mm
耐高温：85~150°c
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基本资料信息
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| 品牌 | 山山 | 型号 | JLCC-32-1.27-0709 |
| 应用范围 | 集成电路IC | 种类 | PLCC |
| 接口类型 | ZIF | 形状 | 矩形 |
| 制作工艺 | 注塑 | 特性 | 阻火/阻燃 |
| 工作频率 | 低频 | 接触件材质 | 铍铜 |
| 绝缘体材质 | PPS | 针数 | 32pin |
微电子器件高温老化测试插座，是用的对微电子器件的老化测试。对其性能的稳定性进行测试老化。
节距：2.54mm,1.27mm,1.0mm,0.8mm,0.65mm,0.635mm
耐高温：85~150°c
