未核实，仅供参考高灵敏电制冷AMPTEK-X123型Si-PIN探测器(美国产)／探测面积：5-25mm2／分辨率：149eV
l 美国spellman公司生产专用电源／输入电压: +24v DC，精度偏差±5%
l 美国牛津公司生产X荧光分析仪专用光管灯丝电压: 2.2V对应50 kV/1mA
l 摄像定位系统：30万像素／800×600分辨率／32位真彩
l 特殊材质的X射线滤光片
l 专为不同测试样件设计的专用准直器
l MLSQ-FP分析软件模块(集ROHS有害元素分析、金属元素分析、电镀层厚度分析、全元素分析)l 测定元素原子编号11（Na）~ 92 (U)
l 一次可同时分析样品中25个金属的含量极成分
l 测试样品形态：固体，粉末，液体，滤渣，镀层及其他
l 元素含量分析范围为1 PPm到99.99%
l 多次测量重复性可达0.1%
l 长期工作稳定性为0.1%
l 检测时间100-120秒
l 样品观察：高清晰CCD摄像头可实现准确定位微小物体测量及产品拍照功能
l 可以对铜、锌、铁、不锈钢等任意基体的金属做成分分析
l 系统支持化合物换算，即通过金属元素的分析可以换算出该金属在物体里相应化合物的比例
l 定性分析功能／定量分析功能
