XT-150D测试仪(图)

XT-150D克服了模拟晶体阻抗计功能单一、可靠性差，读数不直观的缺点，采用*新技术，自带频率和频差（ppm）测量功能，等效电阻，负载电容和静电容数字化显示。可以设定频差上下限，对合格品，仪器会语音告知测试者，减轻了劳动强度，提高了工作效率，是一项高品质的智能化产品. 主要测试项目：
1． 晶体的串联谐振频率FS。
2． 晶体的负载谐振频率FL。
3． 晶体的串联谐振电阻RR。
4． 晶体的负载谐振电阻RL。
5． 晶体的静电容C0。
6． 晶体的负载电容CL。
7． 晶体的频差ppm或KHz。
技术指标：
1． 晶体频率测量范围3―60ＭＨｚ。
2． 等效电阻测量范围０―２００Ω。
3． 静电容测量范围：０―２０ＰＦ。
4． 负载电容的调整范围：１０―――４０ＰＦ。
5． 激励电平的调整范围：１０―――５００ｕＷ。
6． 晶体等效电阻的测量误差：≤５％。
7． 激励电平误差：　　　　　≤５０％。
8． 工作温度范围：　　＋１５―――＋３５℃。
9． 时基稳定度（10MHz）： 5×10-7
10． 电源电压：　　　２２０Ｖac　＋／－１０％。
11． 功耗：           ≤１５W。