大量|IR-2双波段发射率测量仪

IR-2型双波段发射率测量仪

产品属性参数:

1.测量波段3μm-5μm，8μm-14μm、1μm-22μm（若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片）
2.发射率测量范围：0.1-0.9
3.灵敏度NE△ε：0.001
4.示值误差：±0.02（ε>0.50）
5.重复性：±0.01
6.样品温度：常温（特殊用户为常温~300℃）
7.样品尺寸：直径≥50mm
8.测量时间：3秒
9.显示方法：LED数字显示，末位0.001
10.电源：交流22V，50Hz

 

上海诚波光电科技有限公司专业生产平行光管、黑体、IR-2双波段发射率测量仪等产品，品种齐全、价格合理。

产品销往国内各大专院校、科研院所、计量检测机构、航天航空部门等。公司以先进的技术、可靠的质量、完善的售后服务赢得了国内用户的一致好评。

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以上技术指标以及属性参数可根据客户要求进行改进，可满足客户的特定需求！！！

如有意向，请致电： 屠经理 15821974052   联系旺旺：shcb521

              E-mail：XU_LING5697@sohu.com

 

IR-2双波段发射率测量仪可在航天航空红外隐身、红外烘烤、建材、造纸、纺织等行业用于对材料红外辐射特性的测量研究。
    发射率是材料热物性的基本参数之一。近几年来随着红外技术、辐射传热学、辐射测量、太阳能研究、材料科学以及军事目标稳身技术的发展。
    新型发射率测量仪是采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率的。它能测量常温样品在3μm-5μm，8μm-14μm和1μm-22μm三个波段的发射率。当有特殊需要时，它可通过专用的控温加热装置在常温300℃温度范围内加热样品，从而对样品进行发射率变温测量。