Donner Technologies DIPA2000i 激光粒度粒形分析仪

DIPA 2000i 采用激光光阻技术，不需要任何假设或样品特性，可直接测定微粒的粒度分布（0.1 - 3600微米）。
这种独特的分析技术，被称为“Laser Obscuration Time”激光光阻技术（LOT）。
LOT与其他激光衍射技术相比的主要优势是其较高的分辨率，通过对小范围的检测从而得到更好的测量精度。
使用LOT技术主要好处是，即使有任何其他颗粒或介质的物理或化学性质影响，仍得到可靠地测量结果。
配套的先进软件，通过分析计算复杂的多脉冲信号光阻时间，可在几秒钟内得到清楚和精确的颗粒分布测量结果。
DIPA 2000i实时可视化采样，有效地让用户可以轻松地监测样品准备过程或受污染情况，同时也为了避免样品无关的或不必要的组分影响分析结果。

• 激光光阻和视频双测试通道，能够准确的分析颗粒粒径及粒形
• 粒径测试范围0.1~5000 μm
• 测量结果不受颗粒的物理化学特性影响，也与测量环境条件无关
• 能测量半透明和透明样品