APAS偏光特性自动解析系统

光测量和检查技术中，解析偏光状态是提供测量对象的各种信息的重要手段。

APAS 系列是为控制偏光状态，并进行解析而开发的系统。

APAS 可用于检查液晶材料的质量，检测应力或应变，或评价有关装置。